产品库 > 半导体 > EFA 电性失效分析 > Nanoprobing 纳米探针系统

Hyperion II 系统 基于扫描探针显微镜的纳米探测系统

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· 原子力探测
· 定位晶体管故障
· 集成式 PicoCurrent (CAFM)

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